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  • 简介:本文介绍了同步辐射光源的特点,以及在应用于X射线形貌时带来的各种好处。并通过介绍在北京同步辐射装置上所做的若干实验成果,扼要叙述了同步辐射X射线形貌在晶体缺陷研究和晶体生长中的应用。

  • 标签: 同步辐射 X射线形貌术 晶体缺陷 晶体生长
  • 简介:论文介绍了北京同步辐射X射线荧光微束分析装置的最新进展,以及近年来在生物医学和石油地质领域的应用研究工作,重点报导了前不久在国内首次使用该方法,对单个流体包裹体探测的实验结果。

  • 标签: 同步辐射 X-射线荧光 微束分析 微量元素 分析装置 应用
  • 简介:X射线计量标准的建立和软X射线探测器标定是目前国内急需解决的课题,本文简单介绍了两套北京同步辐射X射线装置,它们主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。另外给出了近年来在软X射线测量装置上开展的计量标准和探测器标定方面的研究结果。

  • 标签: 北京同步辐射软X射线装置 软X射线探测器 标定 软X射线 计量
  • 简介:利用北京同步辐射装置漫散射实验站的五圆衍射仪,建立了掠入射X射线衍射实验方法。对Si表面生长的Ge/Si量子点及其在Si表层产生的应变进行了成功测量,表明此方法可以有效地提取表面层的微弱信号。实验结果表明,Ge/Si量子点的形成除了在Si衬底表层形成了晶格具有横向膨胀应变的区域之外,还在Si衬底中形成了具有横向压缩应变的区域。

  • 标签: 同步辐射 X射线 实验技术 应用 掠入射衍射 表层结构
  • 简介:利用同步辐射X射线高能量,穿透能力强和高分辨率的特性,根据X射线形貌成像原理分别对工程结构陶瓷烧结后,材料内部微结构和微缺陷尺寸大小、分布和界面形貌进行无损观测。直观地获取微结构图像,为宏观分析结构陶瓷韧性和强度等力学性能,为建立扩散和本构模型提供有效的实验数据和图像。

  • 标签: 同步辐射硬X射线 陶瓷 烧结 内部微结构 形貌
  • 简介:X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性.根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟,得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式:在靠近样品表面一侧的衰减长度为8埃,而在靠近样品衬底一侧的衰减长度为3埃,且分布形式与Ge原子层的厚度无关。讨论了不同结构参数(Ge原子薄层的深度、Ce原子分布范围、样品表面粗糙度、样品表面氧化层厚度等)对样品低角反射曲线的影响.

  • 标签: 同步辐射X射线反射法 薄层异质结构 Ge 半导体材料 表面偏析
  • 简介:摘要目的依据国内外标准和指南评估低能X射线中放射治疗室的屏蔽需求,测量屏蔽材料的透射系数、关注位置的周围剂量当量率水平以及防护装置的应用效果,为此类设备屏蔽方案的设计和防护装置的应用提供参考。方法分别依据我国GBZ 121标准、英国医学物理与工程研究所(IPEM)75号报告和美国国家辐射防护与测量委员会(NCRP)151号报告计算INTRABEAM中放射治疗室所需的屏蔽厚度。实际测量固体水板、屏蔽贴片和防辐射围裙对于此设备产生低能X射线的透射系数,对模拟治疗条件下关注位置处的周围剂量当量率进行测量并评估辐射防护屏的应用效果。结果依据不同标准和指南计算得到治疗室全部关注点处所需铅屏蔽厚度均<0.6 mm,差异为亚毫米水平。此设备产生的低能X射线在屏蔽物质中衰减明显,0.05 mm铅当量屏蔽贴片和0.25 mm铅当量防辐射围裙的透射系数为0.068和0.003 8。使用球形施用器在空气中进行照射时,距离射线源1和2 m处测得的周围剂量当量率为10.7和2.6 mSv/h。将施用器置于小水箱中后,相应的周围剂量当量率降为3.8和0.9 μSv/h,防护屏的使用可以使2 m处的周围剂量当量率降为本底水平。结论低能X射线中放射治疗设施的屏蔽需求较低,设备产生的射线有效能量低,但在邻近未屏蔽辐射源位置的剂量率较高,应优化设计治疗室屏蔽方案并合理使用防护装置。

  • 标签: 术中放射治疗 低能X射线治疗机 放射防护 屏蔽设计
  • 简介:流体包裹体保留了古地质时期流体的原始组成,为矿物形成提供有价值的物理化学信息,对单个流体包裹体的无损成分分析,成为国际地学领域的重大前沿课题。同步辐射X射线荧光(SRXRF)微探针以其在微量和微区分析上的优势为这方面的研究提供有力的工具。我们在北京同步辐射装置(BSRF)的3WIA新束线上,用这种微探针开展了单个流体包裹体无损分析的实验研究。用特制的狭缝系统,从能量为3.5-35kev的同步辐射X射线中得刮10×10μm^2的微束,通过显微对光调整使它入射到选定的大小适当的单个流体包裹体样品上,其所产生的荧光用来确定流体中所含元素的丰度。用NIST612标样,测定了目前实验条件下元素的最小检测限(观测时间为1000秒),检验了这种方法的可行性。在此基础上,对一组典型有机包裹体样品分别单个作无损成分分析,给出了K、Ti、V、Cr、Kh、Fe、Ni、Cu、Zn、Rb、Sr、Y、Zr和Pb等14种元素的半定量测试结果,并说明这些结果可用来研究包裹体所在储层的沉积环境以及包裹体形成时捕获的油气的母源问题。

  • 标签: 单个流体包裹体 同步辐射X射线荧光微束 无损分析 矿物
  • 简介:摘要目的为了加强以及规范医院对于CT、DSA、CR、DR等X射线医疗设备的辐射防护工程作业的标准化工程体系,介绍了具体施工流程以及对X射线防护设计限值和最优化要求。以64排螺旋CT施工工程为参考对象,从砌筑墙体、地面、棚顶以及门窗等施工措施,分析了防护钡沙、含铅门窗以及玻璃的射线吸收值的最佳范围选定。结论总结出了X射线防护工程的安装经验以及防护限值使用和测量的技巧,为类似的工程提供参考意见。

  • 标签: X射线 辐射 防护 工程
  • 简介:利用同步辐射X射线形貌研究晶体缺陷.是近年来发展起来的一种优良的实验方法.本文在研究LNP等晶体缺陷的同时,对这种实验方法进行了系统的探讨,讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题.以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据.

  • 标签: 同步辐射形貌术 晶体缺陷 实验方法 散射光 X射线衍射分析 劳厄斑点
  • 简介:利用双晶单色器和精密二圆衍射仪,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术,并用这一实验技术结合X射线衍射方法,研究了Si晶体中外延生长的超薄Ge原子层的微结构。实验结果表明,由于Ge原子的偏析,在Si晶体样品中形成了共格生长的GexSi1-x合金层,浓度平均值为X=0.13;650℃退火会使Ge原子向表面扩散,Si晶体中的合金层消失,在晶体表面形成接近纯Ge的单原子层。

  • 标签: 同步辐射 X射线驻波实验技术 半导体超薄异质外延层 硅晶体 外延生长 超薄锗厚子层
  • 简介:论文介绍在北京同步辐射装置(BSRF)的实验条件下,用同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹体作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹体鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光、进行探测等。在20μm×10μm和10μm×10μm束斑下对几种类型流体包裹体作了测试分析,结果表明,矿物包裹体与主矿物中所含的微量元素的种类比较一致,只是在含量上有明显区别,它可以指示某种金属矿床和某种伴生矿的存在;而储集层中不同油井和层位的有机包裹体中所含微量元素的特征,可用于研究油气的成因和演化。

  • 标签: 同步辐射 X-射线荧光微探针 流体包裹体 无损分析 石油 天然气
  • 简介:本文简述流体包裹体研究的意义。介绍在BSRF的实验条件下,用同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹体作无损成分分析实验探索,包括样品的制备、流体包裹体鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光,进行探测等。在20×10μm^2和10×10μm^2束斑下对几种类型流体包裹体作了测试分析,并对结果作了讨论。

  • 标签: 同步辐射 X射线荧光微探针 流体包裹体 无损分析 矿物 成矿流体