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同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹体的探测分析

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摘要本文简述流体包裹体研究的意义。介绍在BSRF的实验条件下，用同步辐射X射线荧光微探针对单个流体包裹体作无损成分分析实验探索，包括样品的制备、流体包裹体鉴别和选择及在工作平台上对它们作显微对光，进行探测等。在20×10μm^2和10×10μm^2束斑下对几种类型流体包裹体作了测试分析，并对结果作了讨论。

DOI 5jo69lokjv/1407236

作者李葵发;黄宇营;等

机构地区不详

出处《北京同步辐射装置年报》 1998年1期

关键词同步辐射 X射线荧光微探针流体包裹体无损分析矿物成矿流体

分类 [核科学技术][核技术及应用]

出版日期 1998年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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北京同步辐射装置年报

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