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  • 简介:摘要:在当今快速发展的半导体行业中,-直接键合技术作为一项核心技术,其重要性不容小觑,尤其是在微电子、微机电系统(MEMS)、光电子学以及三维集成器件等前沿领域。随着信息技术的飞速进步,对集成度、性能及成本效益的需求日益增长,促使研究人员不断探索更为高效、可靠的微纳加工技术。-直接键合作为一种无需中间粘合剂的直接物理连接方法,凭借其形成的高纯度、高强度的共价键界面,在提高器件的集成度、减少寄生效应、增强热稳定性及降低功耗等方面展现出独特优势,成为推动这些领域技术创新的关键驱动力。本文简要研究分析-圆低温直接键合工艺。

  • 标签: 硅-硅晶圆 低温 直接键合工艺
  • 简介:摘要:本文主要探究圆切割工艺。研究过程中,以激光隐形切割工艺为例,选择8寸圆,厚度450µm,99.9%纯为试验材料,光纤激光器为试验设备,结果表明激光功率、焦点位置、激光频率、光板重叠率、速度及加工次数均会影响切割效果,需结合实际情况,设置切割参数,从而为相关工作者提供参考。

  • 标签: 硅晶圆 激光切割 切割工艺
  • 简介:据悉,由南开大学、天津津能公司等共同投资建设的新型光伏电池——非和微叠层电池生产线,目前在天津高新区建成投入生产。并将产品远销海外市场,受到用户欢迎。

  • 标签: 叠层电池 生产线 微晶硅 非晶硅 投产 南开大学
  • 简介:摘要本文通过对目前较流行新型采暖方式地暖的原理,优缺点的分析,结合本单位工程期间对采暖设施的改造,对地暖与其他比较常用的采暖设施做了比较分析,并简述了在本单位的铺设使用情况。

  • 标签: 硅晶地暖 铺设方法
  • 简介:用小角X射线散射(SAXS),Raman谱,红外透射谱等研究高氢稀硅烷热丝法(HWCVD)制备氢化微膜微结构,结果表明微的大小及在薄膜中的晶态比随氢稀释度的提高而增加。SAXS表明薄膜致密度随氢衡释度的增加而增加。结合红外谱和SAXS的结果讨论了不同相结合下网络中H的键合状态。认为在非膜中H以SiH键为主,在微膜中H以SiH2为主且主要存在于晶粒的界面。

  • 标签: 微晶硅薄膜 小角X射线散射 半导体 红叶光谱 结构
  • 简介:摘要随着当今行业趋向于更薄的圆和更高的电池效率,前后表面的钝化现在对于商用电池也变得至关重要。太阳电池表面钝化是提高其光电转换效率最行之有效的手段之一。晶体太阳电池的背面钝化是下一代高效低成本太阳电池研发的热点。本文主要论述背面钝化的晶体太阳电池的关键理论和工艺,从电池的发展概括,以及背钝化的意义和方法进行分析,旨在讲述不同背钝化方法的特点给与相关企业提供有价值的帮助。

  • 标签: 背钝化 高效 晶硅电池 研究
  • 简介:摘要:随着碳达峰和碳中和目标的明确提出,光伏产业迅速发展,成为绿色能源领域的一大亮点。光伏组件不仅蕴含丰富的可再生材料,如玻璃、铝和等,还包含诸如铟、镓这类珍贵的稀有材料。随着光伏产业原材料成本的不断攀升和市场对光伏组件的旺盛需求,合理高效的回收机制不仅可以减少资源的浪费,还能在一定程度上缓解原材料供应的压力,实现经济与环保的双赢。因此,本文将对光伏组件回收技术现状与发展趋势进行探讨。

  • 标签: 晶硅光伏组件 回收技术 现状
  • 简介:以R2O-CaO-SiO2-F系渣微玻璃为研究对象,考察冷却速率对微玻璃析动力学的影响。研究表明:对于同一化学组成的基础玻璃,析峰峰位发生明显迁移,析峰峰值温度发生非常大的变化,在升温速率α=10℃/min时,样品析峰峰值温度相差近40℃;基础玻璃呈现两种不同的析方式,即表面析和整体析。通过化实验发现,冷却速率对析出相的种类和相对比例都有显著影响,由析出相不同而引起的样品微观形貌也呈现巨大的差异性。

  • 标签: 微晶玻璃 冷却速率 析晶活化能 晶化指数
  • 简介:通过扫描电子显微镜、X射线衍射仪和喇曼谱仪检测铝诱导非薄膜的场致固相化的情况,分析了电场方向对铝诱导非薄膜固相化的影响.

  • 标签: 铝诱导 非晶硅薄膜 电场 固相晶化
  • 简介:摘要太阳能发电在不远的将来会占据世界能源消费的重要席位。中国的太阳能发电研究比国外晚20年,但目前已经成功超越欧洲、日本成为世界太阳能电池生产第一大国。太阳能电池在大规模应用和工业生产中占据主导地位。本文通过CNABS、DWPI数据库结合incopat,对全球、国内太阳能电池专利分布进行详尽分析

  • 标签: 光伏 晶硅电池 专利 政策
  • 简介:摘要: 太阳能发电在不远的将来会占据世界能源消费的重要席位。中国的太阳能发电研究比国外晚 20年,但目前已经成功超越欧洲、日本成为世界太阳能电池生产第一大国。太阳能电池在大规模应用和工业生产中占据主导地位。本文通过 CNABS、 DWPI数据库结合 incopat,对全球、国内太阳能电池专利分布进行详尽分析

  • 标签: 光伏 晶硅电池 专利 政策
  • 简介:摘要已经被广泛应用于现代微电子领域,准确测量其电学和光学特性对其应用具有重要意义。本文提出利用太赫兹(THz)无损检测技术研究(Si)元的方法,采用空气共振产生和检测THz时域光谱系统产生了0.1-8THz的THz波,利用该系统的时域光谱模块获得高阻Si的时域波形和频谱,计算得到其折射率、相对介电常数;利用光泵浦-THz探测模块测得Si的载流子寿命。实验结果和出厂标定的参数近似,本方法也适用于其他半导体元的光电特性的检测。

  • 标签: 太赫兹波,光泵浦太赫兹探测技术,硅,载流子寿命
  • 简介:采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)方法在玻璃衬底上制备出非薄膜,利用正交试验法对射频功率、气体总压、硅烷比例、沉积时间、退火温度、退火时间因素进行了研究,对透过率和电阻率进行了分析,结果表明,采用PECVD法成功制备出非薄膜。正交实验表的分析得知,气体总压对透过率影响最大;硅烷比例对电阻率影响最大。制备非薄膜的优化条件为:射频功率30W、气体总压100Pa,硅烷5%、沉积时间5min、退火温度300℃、退火时间45min。非薄膜的光透过率93.18%,电阻率为13.238kΩ·cm。

  • 标签: PECVD法 非晶硅薄膜 光电性能
  • 简介:利用电子束蒸发技术在衬底上镀一层2.5μm厚的含氢非薄膜,用氩离子激光器的488nm谱线作激发光线,对a-Si-H薄膜进行辐照,使a-Si-H化。其拉曼散射谱和电子衍射谱的结果表明,经激光辐照后,在a-Si-H薄膜中形成纳米粒。

  • 标签: 薄膜 激光 纳米硅
  • 简介:全球领先的薄膜太阳能设备和电池供应商欧瑞康太阳能于2008年11月中旬宣布其新一代“高效非”技术面市。欧瑞康太阳能在组件性能方面一直占据领先地位,运用先前的非技术迄今为止已生产出50万多块太阳能组件。这为高速发展的光伏技术提高了经济生存能力,具有重大意义。

  • 标签: 非晶硅技术 太阳能 光伏技术 供应商 组件
  • 简介:利用激活能测试装置测量了VHF-PECVD高速沉积的本征微薄膜的激活能,结果表明,在不同沉积条件下制备的本征微薄膜的化处于非一微相变域附近,激活能都偏低,存在氧污染问题.给出了氧污染解决途径.

  • 标签: VHF-PECVD 微晶硅 激活能
  • 简介:以商洛市柞水大西沟低铁尾矿为主要原料,采用烧结法研制微玻璃。在分析低铁尾矿化学组成的基础上,设计微玻璃的主相及基础玻璃组成,并对制备工艺进行研究。对制得的微玻璃进行XRD,DSC表征分析,并对试样的抗压强度、真密度、硬度等理化性能做了测试。结果表明:以低铁尾矿、石英粉、生石灰、MgCO3、硼砂为基础玻璃配方,在1400℃下熔制2h制得基础玻璃;经水淬、粉磨、压制成型,在1200℃化2h制得了抗压强度高达47.41MPa的微玻璃。XRD的测试结果表明,采用TiO2+Zr2O3复合晶核剂,且质量比例为2:1时微玻璃化效果较佳,化后的物相为透辉石相(CaMgAl3(SiO3)2),与初始主相设计相符。

  • 标签: 微晶玻璃 低硅铁尾矿 透辉石相 二次烧结
  • 简介:采用高氢稀硅烷热丝化学气相沉积方法制备氢化微薄膜。其结构特征用Raman谱,红外透射谱,小角X射线散射等来表征。结果表明微的大小及在薄膜中的晶态比Xc随氢稀释度的提高而增加。而从红外谱计算得到氢含量则随氢稀释度的增加而减小。小角X射线散射结果表明薄膜致密度随氢稀释度的增加而增加。结合红外谱和小角X射线散射的结果讨论与比较了不同相结构下网络中H的增加而增加。结合红外谱和小角X射线散射的结果讨论与比较了不同相结构下网络中H的键合状态。认为随着化的发生和化程度的提高H逐渐移向晶粒表面,在薄膜中H的存在形式从以SiH为主向SiH2转变,即在微膜中主要以SiH2形式存在于晶粒的界面。

  • 标签: 氢化 小射X射线散射 稀释 制备 微晶硅薄膜 微结构
  • 简介:摘要:氢化非薄膜因具有优良的光学特性和物理特性,被广泛应用于太阳能电池、传感器和大面积平板显示等领域。本文采用等离子增强化学气相沉积法(PECVD)在1.8m×1.5m的基板上制备非薄膜。通过调整下电极加热温差设置及电极间距(spacing)来改善膜厚分布,优化产品TFT特性。

  • 标签: 氢化非晶硅 膜厚均一性 电极间距 PECVD
  • 简介:平板探测器的校正是获取高质量DR图像的前提,本研究针对PE0822非平板探测器开展了射线DR成像实验研究。当平板探测器预热30min以上时,暗场图像比较稳定。根据坏像素的分类标准,实验测试识别了3121个坏点,并制定了新的坏点位置图,最后从软件上实现了平板探测器输出图像的暗场校正、增益校正和坏像素校正。选用高压I级涡轮叶片进行DR成像实验,实验结果表明:经过暗场校正、增益校正和坏像素校正后,提高了DR图像质量,DR图像灰度介于32000~60000之间,且像质计灵敏度达到了胶片照相的工艺要求,可用于涡轮叶片叶身检测。

  • 标签: 平板探测器 增益校正 坏像素 暗场图像