全差示光度法联测锗富集物中锗硅-中国期刊网

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（整期优先）网络出版时间：2001-06-16

作者: 刘星星;李兵;杜治坤

冶金工程 >有色金属冶金

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试验在同一份处理好的试样中,采用低温蒸干排除锗的干扰,比色测定硅;采用全差示光度法测定锗,该方法适应于锗富集物中硅0.5%～10.0%、锗1.0%～40%含量范围的测定.

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