基于进一步提高国内平面近场测量中的副瓣精度，将两种新的探头H面方向图应用到近远场变换中，并与国内目前搭建近场测试系统所使用的两种探头方向图进行结果分析与比较。通过在微波暗室对某频段阵列天线测量，并分别用传统的Stratton-chu积分法、E面电场法以及边缘电流法与边缘电流逼近法进行近远场变换。结果表明，新的探头方向图应用使副瓣测试精度基本接近国际先进水平，远远优于国内现有水平，具有很强的工程实用性。
雷达科学与技术
2014年5期
