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纳米碳化硅粉末的粒径表征

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摘要摘要：为了准确表征纳米碳化硅粉末的粒径和结构，分别采用激光粒度仪、比表面分析仪、扫描电镜和透射电镜对同一批次纳米碳化硅粉末进行测试。结果表明，纳米碳化硅粉末的粒径基本集中在（50~112）nm，使用激光粒度仪测量的团聚颗粒，并不能完全表征单颗粒的粒径。利用表面积和粒径大小的几何相关性，可以表征纳米碳化硅粉末的粒径。使用扫描电镜和透射电镜微束分析技术不仅能够表针粉末形貌及结构，也能够客观表征纳米颗粒的粒径。

DOI lj196wr14v/6455044

作者高一鸣，许娟，杨宁，贺秋霞

机构地区中核北方核燃料元件有限公司，包头，014035

出处《中国科技信息》 2022年12期

关键词纳米SiC粉末激光粒度，扫描电镜透射电镜

分类 [][]

出版日期 2022年09月27日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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