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  • 简介:盲孔压接区的污染问题是NN双面盲压背板制作过程中最常见的问题。本文建立鱼骨图对盲孔压接区的破损污染问题进行了分析,找到了产生盲孔区污染的主要原因为:半固化片开槽设计、钻孔后烘板、去毛刺铜皮破损、阻焊前烘板、各工序擦花及成品酸洗,通过优化设计、工艺和制程管控来解决成品开盖前的盲孔污染问题。

  • 标签: 背板 N+N结构 盲孔区 发黑
  • 简介:2010年是复苏与回落并存的一年,虽然没有大的危机,但烦恼或许更多。我们的经济社会将会在2011年呈现出怎样的模样?这是每个人都急迫的疑问,对业界人士来说,它意味着对后危机时代变革趋势和商业机会的敏锐洞察与大胆展望。

  • 标签: PCB产业 猜想 经济社会 商业机会
  • 简介:MOSFET是大多数开关电源(SMPS)中晶体管的选择。MOSFET可以作为栅极整流器来提高效率。为了在功率应用中选择最好的开关,本文对优化后的P沟道和N沟道MOSFET进行了比较。

  • 标签: N沟道MOSFET P沟道 应用 功率 开关电源 晶体管
  • 简介:0前言随着PCB逐步朝小型化、高外观品质要求化发展,纯粹的冲成型工艺已很难再满足工艺要求,但冲作为一种高效化、低成本的成型工艺,其实用价值又不可忽视。如何改变这种困势,如何在不摈弃冲优势的同时解决冲所带来的外观品质问题,视为冲未来发展之重点方向之一。从此点出发,介绍一种冲外观品质改善的案例,以此来探讨冲工艺的改良方向。

  • 标签: 技术 压伤 外观品质 工艺要求 成型工艺 品质要求
  • 简介:在日前举行的“2011TD—LTE组网技术研讨会”上,工信部科技司高技术处正处级调研员叶林表示,从全球目前TD—LTE的发展来看,多芯片和终端依然是一种发展趋势,目前TD—LTE、FDD—LTE都需要发展多芯片和终端,工信部将积极推动相关芯片企业抓紧开发TD—LTE的多芯片和终端。初期已经明确,TD—LTE、TD—SCDMA、GSM为多必选模式,后期将支持TD—LTE、FDD—LTE多的方案。

  • 标签: LTE TD 多模 芯片 终端 技术研讨会
  • 简介:日前锐迪科微电子宣布RDA6861多前端模块推出样片,它支持四频GSM/EDGE和WCDMA/CDMA/LTE手持移动设备和智能手机。RDA6861是一种高功率,高效率的前端模块芯片,是由多功率放大器和一个多掷天线开关组成的。该产品的内部功率放大器支持WCDMA/LTE频带的频率,并提供两个可选的,用于外部WCDMA/LTE功率放大器连接的UMTS交换机端口。功率放大器,

  • 标签: 前端模块 微电子 多模 样片 WCDMA 功率放大器