简介：通过建立一个典型的金／硅界面结构模型，对X射线入射界面时的剂量增强效应进行了研究。采用MonteCarlo方法计算了不同能量X射线入射金／硅界面的输运过程。其中，对X射线产生的次级电子在介质中的输运，采用了单次碰撞直接模拟方法；对电子的弹性散射截面和非弹性散射截面，分别采用Mott微分截面和Born近似下的广义振子强度模型计算得到。研究计算了不同能量X射线入射下，金／硅界面的剂量增强系数及特定X射线能量下剂量增强系数随金厚度的变化规律。结果表明：X射线能量为几十至几百keV时，剂量增强效应最明显，最大剂量增强系数对应的X射线能量随距金／硅界面的距离增加而增加；金的厚度影响界面附近剂量增强效果，当X射线能量不变时，剂量增强系数随金的厚度增加而增加，并趋于饱和值。

简介：使用x射线衍射法，通过石棉的2口特征峰进行判断，分析滑石粉中可能存在的石棉成分。结果表明，样品中不含温石棉、铁石棉和青石棉，并对温石棉和绿泥石进行了有效区分。方法快速，灵敏，可有效用于滑石粉中石棉的测定。

简介：在北京同步辐射装置3WlB光束线上，对天文观测用超软X射线(0.2keV-3．5keV)正比计数管探测器进行了系统地标定．得到了正比计数管的死时间、计数率坪曲线、能量线性、能量分辨、窗材料透过比曲线；借助于已标定过的光电二极管探测器，测量了正比管探到器的能量响应效率，标定不确定度在10％一18％之间．另外，还对正比管系统在卫星上的六道记录和在实验室里的多道记录进行了对比，两种记录方式符合得很好．

简介：用X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性．根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟，得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式：在靠近样品表面一侧的衰减长度为8埃，而在靠近样品衬底一侧的衰减长度为3埃，且分布形式与Ge原子层的厚度无关。讨论了不同结构参数(Ge原子薄层的深度、Ce原子分布范围、样品表面粗糙度、样品表面氧化层厚度等)对样品低角反射曲线的影响．

简介：为了正确测试铍材表面残余应力分布，建立了一种测试方法，并在X3000型应力分析仪上，采用悬臂梁加载实验，验证了该方法的可行性。

简介：在脉冲X射线测量中,当出射X射线粒子总数低于108时,通过闪烁体成像测量角分布的方法难以获得结果。提出了一种将准直孔阵列、快时间响应闪烁体和多路延时光纤相结合的电流型测量方法,通过记录不同角度的瞬时脉冲波形,能够实现ns以下小焦斑快脉冲X射线角分布的测量。基于该方法研制的测量系统在亚ns重复频率快脉冲硬X射线源上进行了实验验证,获得了距源20cm处的角分布数据。

简介：采用X射线衍射技术（XRD）对白云石原矿和不同温度煅烧的白云石原矿进行了物相分析，白云石原矿中主相为CaMg（CO3）2，相对含量约为98．6％，杂质相为SiO2，相对含量约为1．4％。白云石原矿经过300和500℃，煅烧2h未见主相CaMg（CO3）2分解，在750℃煅烧2h，主相CaMg（CO3）2部分分解为碳酸钙和氧化镁，在1000℃煅烧2hCaMg（CO3）2全部分解为氧化镁和氧化钙。

简介：应用波长色散X射线荧光光谱法对中低合金钢、电工钢、高锰钢、不锈钢中锰元素进行测定。采用经验系数法校正元素间的增强-吸收效应和光谱重叠干扰,元素检测限为2.1μg/g,线性相关系数大于0.9998。考察了分析方法的精密度和准确度,元素的测定结果与认定值一致,相对标准偏差小于2%。

简介：建立了X射线荧光光谱法测定矿石样品中铀、钍含量的快速分析方法。采用高压粉末制样法,对不同含量的放射性样品的压片压力、粒径、含水率、用量等处理条件到进行单因素实验。在400MPa压力下压制,克服了低压制样的弊端,制备的样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,有效地减少了部分基体效应,铀校准曲线的标准偏差从0.053%降到0.0071%,钍校准曲线的标准偏差从0.062%降到0.0057%。经国家一级标准物质验证,表明方法准确、可靠,能满足样品中铀、钍含量日常分析要求。

简介：分别研究了采用压片、熔片两种制样方法，用x射线荧光光谱法（XRF）测定了红土镍矿中的9种元素。压片法重点研究了基体效应校正，经散射线作内标和经验系数法校正后，可准确测定除二氧化硅、氧化镁外的7种元素，方法简便、快速；而熔片法着重研究了熔剂和熔样温度的选择，经基体效应校正，各分析元素的结果准确度完全可与化学法相媲美，其相对标准偏差（RsD）在0．50％-3．00％间。

简介：介绍了在软Ｘ－射线显微术研究领域中有重要应用的Ｓｉ３Ｎ４薄膜窗口的实验室制作方法，并形成一套独特制备工艺，Ｓｉ３Ｎ４薄膜窗口的研制成功推动了我国软Ｘ射线显微术研究的发展。

简介：以Li_2B_4O_7、LiBO_2和LiF（质量比为45∶10∶5）为混合熔剂,NH_4NO_3为氧化剂,LiBr为脱模剂,熔融制作样片,采用硅质砂岩、石英岩标准样品和配制标准样品作为校准样品,建立了熔融制样-X射线荧光光谱法（XRF）测定硅石中主次量成分（SiO_2、Al_2O_3、TFe_2O_3、MgO、CaO、K_2O、MnO、TiO_2、P_2O_5）的快速分析方法。对样品制备以及分析测试过程中的条件进行了优化,在最优条件下,对标准样品（GBW03112、GBW07835）进行重复测定,相对标准偏差RSD〈2%。同时对3个混合配制的硅石标准样品进行分析,结果与参考值无显著性差异。

简介：建立了采用X射线荧光光谱法测定液体水玻璃中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量的方法。研究了适合直接测定液态水玻璃的制样方式、仪器分析参数,确定了工作曲线并录入数据库中。对未知样品的测定结果与化学法、电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法测定结果对比分析,证实了方法具有良好的准确度。精密度实验显示,方法的相对标准偏差（RSD）在0.38%-14.3%。结果显示方法的准确度、精密度完全可以满足对水玻璃中主次成分测定的要求。

简介：O441．42005042976太赫兹(THz)成像的进展概况=ReviewoftheprogressofT-rayimaging[刊,中]／张蕾(首都师范大学物理系,北京(100037)),徐新龙…／／量子电子学报,-2005,22(2),-129-134评述了太赫兹射线成像的进展情况。太赫兹(THz)辐射介于微波和红外之间。与微波、X射线、核磁共振(NMR)成像相比,太赫兹成像不仅能给出物体的密度信息,而且能给出频率域的信息,以及在光频、微波和X射线范围内所不能给出的材料的转动、振动信息。太赫兹射线与其他频段的电磁波相比,它能量低,不会造成对生物样

简介：采用直流X射线连续能谱照射晶体,以极小的步进角,测量一定角度范围内,不同入射角度下的衍射能谱,通过提取各个角度衍射能谱中同一能量X射线的衍射强度,微分得到该能量的平晶摇摆曲线。与传统测量方法相比,该方法具有更大的X射线能量测量范围,可通过一次角度扫描,同时给出多个能量的摇摆曲线。利用该方法开展了16~21keV区间内LiF（200）平晶摇摆曲线的相对强度标定,结果表明,晶体摇摆曲线的半高宽随X射线能量增加而缓慢减小,而峰值强度随X射线能量增加则缓慢增加,在入射能谱强度变化较大区间内,该方法测量结果的不确定度较大。

简介：采用熔融制样，以钾长石、钠长石国家标准样品为主，辅以粘土、炉渣、硅石等标准样品，配制成一系列校准标准样品，用X射线荧光光谱法测定钾长石和钠长石中的Na20、A1203、Si02、K20、CaO、Fe2O2、TiO2的含量，结果表明：方法的相对标准偏差为0．065％-2．9％，其测定结果与标准值基本一致，准确度好，可替代湿法化学分析，适合于长石类硅铝酸盐矿物的日常分析。

简介：应用X射线荧光光谱法测定富锰渣中Mn，Fe，SiO2，Al2O3，TiO2，CaO，MgO，Na2O，K2O，S，P，CuO，ZnO，NiO，BaO15种主次组分。使用混合熔剂在1050℃熔融制备样片，消除了试样的粒度效应和矿物效应，同时也解决了S元素在制样过程中容易挥发的难题。确定仪器测量的最佳参数，研究了熔样的条件、校正模式。各元素的相对标准偏差（RSD，n=10）≤10％，测定结果与化学法测定值相符。方法快速、准确、方便快捷，具有良好的精密度和准确性，可用于富锰渣产品的品质评价和成分分析。

简介：采用粉末压片法建立了X射线荧光光谱法测定铝电解质中氧元素含量的方法，通过测定氧元素来计算三氧化二铝的含量；重点讨论了样品前处理、粉料颗粒度、保压时间、压片压力等对于超轻元素的粉末压片制样的影响因素，同时采用二点法对氧元素进行背景扣除，运用固定“系数法校正基体效应；方法的相对标准偏差RSD低于2．00％，方法的检出限为163mg／kg，相对分析误差控制在3％以下，误差控制在电解质中氧化铝质量控制允许的范围之内。方法用来分析铝电解质中氧化铝组分含量，结果准确，符合生产要求。方法简单、快速、灵敏，能够作为铝电解质中氧化铝的有效检测手段。

简介：详细论述了压片法及熔融片法测定钼精矿的分析条件。其中压片法通过大量采用同一矿区的生产样品经化学定值后作为校准样品建立校准曲线，因此粒度效应和矿物效应基本上可忽略。详细地讨论了元素之间谱线干扰、背景和脉冲高度选择。使用经验系数法校正基体效应，可准确测定钼精矿中的钼、硫、铁、铜、铅、锌等11种元素。在熔融片法中主要讨论了元素谱线的选择及其相互之间的干扰，经理论α系数校正后，可准确测定不同钼矿中的多种元素，其适用范围更广。

简介：采用闪烁体加光电管，建立了一套X射线功率谱测量系统，在“强光”1号丝阵Z-pinch实验中，获取了喷气和丝阵负载的X光辐射功率波形。实验表明将X光探测器设置在与主测量管道成90°的分测量管道中，并选用ST-401闪烁体或红光闪烁体为X光/荧光转换材料，能使可见光透过闪烁体而不在闪烁体中有沉积能量。实验中X光探测器的电磁屏蔽也得到了解决。