简介：笔者在东北师大国培期间聆听了王显峰老师关于＂中学物理教学方法设计与案例分析＂的报告,该报告颇受赞赏使教师们受益匪浅。王显峰老师是吉林大学附属中学非常优秀的男教师,其讲课风趣幽默、学生成绩优异。本文主要阐述王老师这一报告的主要内容,谈一下他独到优异的教学方式,以及值得广大教师借鉴之处。王显峰老师成功的经验着实值得我们学习与借鉴,希望通过教师们的共同努力共创教育的辉煌。

简介：光速的测定是物理学中一个十分重要的课题，文章介绍光拍法测光速原理，结合现有实验仪器，对原有光拍频法测光速的公式加以变换，光速测量的精度有了很大提高。

简介：＂对称测量法＂是物理实验中常用的消除系统误差的方法。为此,文中通过几个实例具体探讨了如何利用＂对称测量法＂消除实验中的一些系统误差的影响,以提高实验的测量准确度。这对实验教学具有一定的实际参考意义。

简介：针对落球法粘滞系数实验中存在的诸多弊端，如小球释放凭经验、人工秒表计时误差较大等，对传统的粘滞系数实验进行改进，用光电门和数字毫秒计代替人工秒表计时，有效降低了人工秒表计时带来的视差和反应误差；在容器顶部加装中心带磁铁拉杆的盖子，通过磁力控制保证小球沿容器的中心轴线下落，降低了小球下落时间的测量误差。测试结果表明，使用改造后的实验仪能够有效提高实验的测量精度，降低实验误差，提高了仪器设备的使用率，降低了实验成本。

简介：为了测量弹丸水面落点的位置,建立了基于CCD相机动态像面的测量模型。该模型通过CCD相机辅助采集相关点位的图像信息,对水面落点的位置函数以及误差进行了研究。首先,利用空间几何获得靶船上三定点相对于测量船的方位、俯仰信息。接着,结合t时刻观测图像上定点的像面坐标,运用底片常数模型建立像面坐标和角度信息两套参量之间的关系函数,从而得到目标落点的方位、俯仰信息,再利用异面交会法计算出目标落点位置。最后,分析了目标落点位置的误差来源（质心误差,位置误差）、误差以及各误差源与位置坐标之间的关系。实验结果表明：在测量船位置精度达到0.05m,图像质心定位精度达到0.5pixel时,在最小交会误差的情况下,目标落点的位置测量误差分别为2.8,4.9,4.3m。

简介：为了利用位相差值法实现大气湍流格林伍德频率的准确测量,研究了位相差值法的有效性、哈特曼探测器采样点数和采样频率的选取方法。首先给出了位相差值法的基本原理和测量噪声去除方法,然后分析了哈特曼探测器采样点数和格林伍德频率的统计平均次数对测量精度的影响,结果显示,当采样点数大于400、统计平均次数大于400时,可以实现大气湍流格林伍德频率的准确测量。研究了测量噪声的影响,结果表明：去除噪声后,测量值的偏离误差从30%降低到0.6%。研究了算法的重复性精度,得到测量值偏离量的RMS值为1.9Hz,占理论值的3%,说明测量方法非常稳定。依据上述结果,对8-108Hz的湍流进行测量和分析,结果显示,当不考虑空气扰动时,测量值与理论值基本一致。最后,研究了哈特曼探测器采样频率和格林伍德频率之间的关系：哈特曼探测器的采样频率越高,能够准确测量的格林伍德频率也越高,并得到了定量的经验公式。上述结果表明,在满足采样点数、采样频率以及统计平均次数等条件下,位相差值法可以实现大气湍流格林伍德频率的准确测量。该研究工作为大气湍流的格林伍德频率测量提供了应用依据。

简介：描述了一种采用HPGe探测器γ能谱法无损测量核材料铀样品并计算样品的生产（纯化）年龄与同位素丰度的方法。该方法不需要其他任何标准源或参考源,对样品的形态（固体、液体）和形状没有限制,由铀样品自身所含多γ射线核素的γ能峰来刻度相对峰效率曲线,由能峰计数率、相对效率、γ射线发射概率等参数确定铀同位素的比值,由^234U与其衰变子体214Bi的活度比值计算其生产年龄。对一个铀总量约5g、^235U浓缩度约90%的24mL液体铀样品,用两套HPGe探测器分别测量不同能区范围的γ能谱：在平面型探测系统获取的低能区能谱中,用^235U的γ能峰刻度相对峰效率曲线,计算了^234U、^228Th（232U子体）与235U的相对比值;在同轴型探测系统获取的高能区能谱中,用^228Th及其子体的γ能峰刻度相对峰效率曲线,计算^238U、^214Bi与^228Th的相对比值,综合计算得到铀样品生产年龄（-32a）及铀同位素丰度,并与样品经过放化分离后,质谱法测量得到的结果进行了比较,生产年龄与丰度比偏差均在5%以内符合。

简介：采用电沉积方法制备了用作锂电池负极材料的锡膜,并利用扫描电镜和X射线衍射仪对其表面形貌和织构进行表征。利用鼓膜法和数字散斑相关法,对锡膜的鼓包变形进行了高精度的全场位移测量。根据测定的薄膜压力及独立膜中心点挠度曲线,结合圆形鼓膜理论模型,实验测得厚度为125μm的锡膜平均弹性模量约为23.325GPa。

简介：提出了一种利用薄膜反射光谱包络线法计算光电薄膜光学常数和厚度的方法。当一束光照射在基板上的介质膜上时，由于薄膜上、下界面反射光的相干，会使反射光谱的曲线有一定的波动。本文对反射光谱进行了理论分析，给出计算公式，从测量曲线中的实验值得出薄膜的厚度和光学常数。此种方法计算过程简单、迅速，而且易于编程处理。