简介:用磁控溅射方法制备了一系列[C(t)/Cu(2.04nm))In(n=20,30)周期多层膜,利用四端点法、振动样品磁强计研究了多层膜的电磁性质,样品的磁电阻随钴亚层厚度的增大有一最佳值t=1.2nm。利用同步辐射掠入射X射线散射(衍射)技术在不同的X射线能量下研究了耦合多层腹的界面结构,探索了耦合多层膜中磁电阻增强的可能原因。
简介:今年4月,受总公司委派,笔者随国家技术监督局计量、质量管理学习考察团赴美进行了为期3周的学习考察,在美期间,听取了一系列专家讲座:ISO9000系列国际标准在美国的贯彻与实施、美国的计量质量保证方案(MAP)、美国的实验室队可计划(LAP)、美国的计量管理体系介绍、美国的市场技术监督机制等;实地考察了美国的一些机构,其中包括有政府计量管理部门、权威计量技术机构、具有第三方公正地位的认证公司、大型私营企业、从事计量器具生产的公司及几家独立测试实验室等。此次考察,较为全面地了解了美国计量领域的法律、法规体系、行政管理模式、市场监督机制、企业经营管理中的计量、质量管理方法等,同时也了解到国际上一些较为先进的计量管理思想及模式(如ISOl0012、MAP、RoundRobin及实验室认可等)在美国实施、