简介:运用同步辐射X射线白光形貌研究了α-BaB2O4晶体内部的完整性并分析了α-BaB2O4晶体的缺陷行为及缺陷形成原因。在(001)面发现了生长扇界和亚晶界,而在(100)面和(120)面分别观察到了位错、位错组以及针状包裹体。运用白光形貌拍摄到高清晰的旁埃斑。
简介:在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X-射线在样品表面激发出的电子产额随X-射线能量的变化,提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明,在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单,可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立,有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。
简介:
简介:详细介绍了软X射线绝对光强测量系统的设计和结构及其标定的情况和结果。测量系统包括电离室、监测(或待标定)探测器及其传动系统两部分,可作为50-2000eV软X射线绝对强度测量的一级标准探测器,并给出了系统的偏差。
简介:初步测量了弯曲导管束对“水窗”波段及其附近X光的响应,结果表明X光在“水窗”段的响应,比其之外的响应要高。
简介:介绍了利用北京同步辐射实验室的全反射X射线荧光谱仪测量生物细胞样品的可行性;用此谱仪测量了正常的和受辐照的小白鼠小肠细胞的痕量元素含量,发现K、Ca、Fe等元素含量有明显提高,Cu元素含量明显降低,Mn元素含量变化不大,Zn元素含量基本稳定;讨论了其在临床医学上的重要价值。
简介:本文介绍了同步辐射光源的特点,以及在应用于X射线形貌术时带来的各种好处。并通过介绍在北京同步辐射装置上所做的若干实验成果,扼要叙述了同步辐射X射线形貌术在晶体缺陷研究和晶体生长中的应用。
简介:X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段。利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据逆向求解原子深度分布的分层逼近法,研究了不同温度下分子束外延生长的δ掺杂(Sb)Si晶体样品,成功地测量了样品中几个纳米范围内的Sb原子深度分布,所得结果表明,300℃以下是用分子束外延方法在Si晶体中生长Sb原子δ掺杂结构的合适温度。
高温相偏硼酸钡(α—BaB2O4)晶体的缺陷行为分析
测量XAFS谱的全电子产额技术
固体薄膜、超薄膜X射线测量结构表征
软X射线绝对光强测量系统及其标定
弯曲导管束对软X光的响应测量
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
超薄层、亚单原子层固体薄膜的X射线测量结构表征
全反射X射线荧光分析测量小白鼠小肠细胞的初步研究
同步辐射X射线形貌术在晶体生长和缺陷研究中的应用
同步辐射X射线反射技术及其在测量δ掺杂晶体中原子表层深度分布的应用