简介：通过实验证实在一定的含量范围内,用与海砂成份相类似的一个石英砂标样进行基体校正和归一化处理,可用现有的硅酸盐测定程序测定玻璃工业上用的海砂中的硅、铝和铁。其结果的精密度和准确度可与化学法媲美。
简介：本文提出了一种利用非抑制型离子色谱法测定印制电路板表面六种无机阴离子污染物的方法.样品用异丙醇水溶液提取后,用Sep-PakC18小柱净化试样,用离子色谱分离,电导检测器检测.六种阴离子的检测限介于0.01～0.2μg/ml之间,回收率为98～104%.方法准确,可靠,可用于印制电路板洁净度的评价分析.
XRFA法测定玻璃工业用海砂中硅、铝和铁
非抑制型离子色谱法测定负印制电路板表面阴离子污染物
