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  • 简介:美国国家标准工艺研究所(NIST)的科学家制成了由硅纳米线与传统数据存贮装置结合在一起的混合记忆元件。美国乔治马松大学和韩国Kwangwoon大学的研究人员一起参加了这项工作。这种混合结构可能比其他利用纳米线制成的记忆元件可靠性更高,而且更加易于转入商业应用。

  • 标签: 数据存贮技术 硅纳米线 元件可靠性 混合结构 标准工艺 研究人员
  • 简介:日本东芝公司的研究人员开发出一种三维记忆胞阵列。这种结构提高了单胞密度和数据存贮容量。在这种结构中,一些堆集的柱状记忆元件垂直穿越多层电极材料并利用共享外围电路。这一创新设计对未来高密度闪存记忆技术可能是一种可取技术。

  • 标签: 存贮容量 记忆 阵列 三维 日本东芝公司 研究人员