简介：
简介：介绍了半导体制冷片的基本结构,基于单片机和半导体制冷片设计了热敏电阻温度特性研究实验,设计完成了温度特性研究系统的硬件电路和软件构造,探讨了单片机和半导体制冷片在物理实验中的应用。此实验平台具有很好的扩张性,可用于设计组成各种温度控制类的实验内容。所完成的温度特性研究实验系统具有集成度高、体积小、使用方便等特点。
简介：随着科技的发展，对测量微小物体尺寸的精确度、速度都提出了新的要求，作者曾提出过一种基于激光发射测量微小物体尺寸的技术（见文献1）。该技术原理简单，测量微小物体尺寸的误差可控。然而，该技术在测量物体的大小方面还存在着一定的局限性；同时为了使系统达到最大测量范围，小齿的斜面与底板夹角a在实际过程中需要讨论。本研究对实验装置进行适当改进，从而解决了上述瓶颈问题。
3 - 43 I-V and C-V Characteristics at Variable Temperatures of High Energy U Ion Irradiated GaN Epi-layers
基于单片机和半导体制冷片的热敏电阻实验
一种基于激光反射的测量微小尺寸改进型技术研究
