简介：着重介绍了利用耦合谐振环法测量微带基片介电常数和损耗角正切的技术,并通过软件仿真及实物测量验证了该方法的正确性及测量精确度。在1～12GHz频率范围内,介电常数测量不确定度为±3%,损耗角正切测量不确定度为±30%。该方法的测量电路易于制备,对测量环境要求较低,可用于普通的实验室测试。
简介：该文利用疏散星团NGC6530的自行观测数据和成员判别结果，给出了星团的光度函数，并详细讨论了星团的质量分层效应。分析表明，NGC6530存在空间质量分层效应，但并不存在速度质量分层，因此星团的表观空间质量分层可能起因于星团形成时的初始条件，而不是动力学弛豫的结果。
用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性
疏散星团NGC 6530的光度函数和分层效应
