集成电路测试生成算法研究

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摘要 摘要:集成电路测试,实则对集成电路或是整个模块作出测量,将输出回应对比我们的预期输出,从而判断元器件的性能优劣及其功能。目前,已成为检验设计、生产控制、分析失效的可靠手段。本文介绍了测试的基本原理、过程,阐述了成算法的具体性能,最后展望今后的发展走向。
作者 蒋焕
出处 《中国电气工程学报》 2024年3期
出版日期 2024年04月10日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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