电子元器件二次筛选及质量控制措施研究

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摘要 摘要:在本研究中,探讨了电子元器件在生产与制造过程中的二次筛选及质量控制措施。首先阐述了电子元器件质量控制的现状和面临的挑战,随后详细介绍了一种创新的二次筛选流程,包括先进的测试方法,如电参数测试、温度循环测试和机械强度测试等,以评估元器件在极端工作条件下的性能和寿命。此外,本研究还提出了一套全面的质量控制措施,旨在通过实时监控和数据分析,预防潜在的质量问题,从而提高元器件的整体可靠性。
作者 李靖
出处 《中国科技信息》 2024年3期
出版日期 2024年04月07日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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