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台积电和ARM合作降低65纳米测试芯片的功耗

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摘要台积电和ARM公司宣布双方在65纳米低功耗测试芯片上的设计合作，显著降低了其动态功率和耗散（Leakage）功率。两家公司认为创新的低功耗设计技术对于最终的成功起到了关键的作用。

DOI lj1e59q2dv/453468

作者

机构地区不详

出处《单片机与嵌入式系统应用》 2006年9期

关键词 ARM公司功耗测试芯片纳米合作设计技术

分类 [自动化与计算机技术][计算机系统结构]

出版日期 2006年09月19日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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