NI和泰克强强携手联合举办“设计、验证及测试”巡回研讨会

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摘要 新闻发布——2004年6月--美国国家仪器中国有限公司(NationalInstruments)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)联合宣布推出一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛(Design,Validation,TestForum,简称DVTF2004)”,扩展双方的合作空间.并帮助设计工程师们满足日益增长
作者
机构地区 不详
出处 《测控自动化》 2004年7期
出版日期 2004年07月17日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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