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《测控自动化》
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NI和泰克强强携手联合举办“设计、验证及测试”巡回研讨会
NI和泰克强强携手联合举办“设计、验证及测试”巡回研讨会
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摘要
新闻发布——2004年6月--美国国家仪器中国有限公司(NationalInstruments)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)联合宣布推出一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛(Design,Validation,TestForum,简称DVTF2004)”,扩展双方的合作空间.并帮助设计工程师们满足日益增长
DOI
o3j7kv1qd1/217353
作者
机构地区
不详
出处
《测控自动化》
2004年7期
关键词
美国国家仪器中国有限公司
国有
合作
有限公司
联合
论坛
分类
[自动化与计算机技术][检测技术与自动化装置]
出版日期
2004年07月17日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
测控自动化
2004年7期
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