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运算放大器CA3140瞬时电离辐射效应正交实验研究

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摘要在“强光一号”上对BiMOS工艺运算放大器CA3140进行了瞬时电离辐射效应正交实验,研究了不同因素对CA3140输出端瞬时电离辐射扰动恢复时间的影响,得到了不同因素对恢复时间产生影响的主次顺序和显著水平,以及运算放大器在瞬时电离辐射环境下的最坏因素组合.

DOI kwjv8ggqd7/178502

作者马强;金晓明;杨善潮;林东生;王桂珍;李瑞宾

机构地区不详

出处《现代应用物理》 2013年2期

关键词正交设计瞬时电离辐射效应 BIMOS 恢复时间

分类 [理学][物理]

出版日期 2013年02月12日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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现代应用物理

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