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《通信与电子测试》
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2001年3期
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高速芯片校准和测试四端口微波测试系统
高速芯片校准和测试四端口微波测试系统
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摘要
未填写
DOI
7dmnnnxe4n/1385006
作者
熊时泽;孙宁
机构地区
不详
出处
《通信与电子测试》
2001年3期
关键词
芯片
微波测试系统
集成电路
分类
[电子电信][物理电子学]
出版日期
2001年03月13日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
通信与电子测试
2001年3期
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