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X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si，P，S

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摘要目前，国内没有关于半钢发热剂的国家标准检测方法，只能根据组分范围分别检测各个组分，不仅耗时而且使用的大量化学试剂对环境造成污染。故研究了X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂中Si，P，S的方法。采用粉末压片制样，研究其制样条件，包括磨样时间、压样时间和压力对测定结果的影响。采用其它方法定值提供的检测样品，作为x-射线荧光光谱法内控标准样品，采用经验系数法进行基体校正，通过解谱拟合建立校准曲线，校准曲线建立后仪器建立漂移校正程序。实验结果精密度好，各元素的相对标准偏差在0．15％-1．3％。准确度满足生产需求，实验方法可用于快速检测半钢发热剂化学组分。

DOI g4qn0kr948/1351124

作者段家华;赵征宇;马林泽;李洁;严海;杨文龙;何晓凤;孔翠芬;杨发文

机构地区不详

出处《中国无机分析化学》 2014年2期

关键词 X-射线荧光光谱法快速测定半钢发热剂方法研究

分类 [理学][化学]

出版日期 2014年02月12日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中国无机分析化学

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