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测试程序在不同系统上的移植

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摘要在集成电路生产测试过程中,在不同测试系统上互相移植程序,对发挥测试系统的利用效率、测试分析验证等具有重要意义.本文通过试验对在移植过程中应注意的问题作一探讨.

DOI mpj0m5wdyx/11527

作者武乾文;屠莉敏;周冬雁

机构地区不详

出处《电子与封装》 2003年2期

关键词集成电路测试程序移植测试系统

分类 [电子电信][物理电子学]

出版日期 2003年02月12日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

电子与封装

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