低压成套开关设备温升测试及影响因素研究

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摘要 摘要: 低压开关设备温度过高时,会造成绝缘性能下降、电路老化等一系列的问题,不仅会导致开关设备丧失正常的使用功能,甚至会产生一定的安全问题,因此,开展低压成套开关设备温升测试具有一定的必然性,本文将对此进行深入的探究,期望能够提供一些有效的帮助。
出处 《中国电气工程学报》 2020年03期
出版日期 2020年07月26日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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