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《中国电气工程学报》
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2020年03期
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低压成套开关设备温升测试及影响因素研究
低压成套开关设备温升测试及影响因素研究
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摘要
摘要: 低压开关设备温度过高时,会造成绝缘性能下降、电路老化等一系列的问题,不仅会导致开关设备丧失正常的使用功能,甚至会产生一定的安全问题,因此,开展低压成套开关设备温升测试具有一定的必然性,本文将对此进行深入的探究,期望能够提供一些有效的帮助。
DOI
ojne2y1xjr/4709313
作者
陈卢明
机构地区
巨邦集团有限公司,浙江省温州市乐清市 325600 陈卢明
出处
《中国电气工程学报》
2020年03期
关键词
低压成套开关设备
温升测试
影响因素
研究
分类
[文化科学][]
出版日期
2020年07月26日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
中国电气工程学报
2020年03期
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